Dziwne oznaczenia na flashowych układach scalonych - czy te fabryczne odrzucają?

33

Niedawno kupiłem naprawdę, naprawdę tani dysk SSD (25,99 USD) i otworzyłem obudowę z ciekawości.

Chipy flash mają wytrawione paski na numerach części, czego nigdy wcześniej nie widziałem.

wprowadź opis zdjęcia tutaj

Czy to standardowy sposób oznaczania żetonów jako odrzuconych?

Edycja: Kupiłem dwa z nich, aby umieścić je w RAID-1, ponieważ nie ufam im zbytnio, a drugi ma identyczne oznaczenia:

wprowadź opis zdjęcia tutaj

Ten używa lampy błyskowej Micron, choć oznaczenie jest identyczne.

W tym momencie mogę tylko pomyśleć, że musi to być naprawdę, naprawdę, naprawdę nieskuteczna próba ukrycia numerów części flash?

Części mikronowe MT29F128G08CBECBH6-12:Cto 16 GB, więc jest 64 GB wolnej pamięci.

Pozostałe części są opatrzone marką „Spectek” , która jest najwyraźniej mikronową filią, o której nigdy wcześniej nie słyszałem. Wygląda na to FBNL95B71KDBABH6-10AL, że są to także 16 GB części.

Edytować:

Pierwszy z dysków przeszedł sudo badblocks -b 4096 -c 4096 -s -w /dev/sdmbezbłędnie, więc najwyraźniej pojemność jest prawdziwa i nadają się do co najmniej jednego zapisu.

Edytuj edycję:

Korekta: Albo badblocksjest upaść mój el-cheapo adapter USB-SATA, albo zrobić jakieś problemy.

Edytuj edytuj edytuj:

Ok, uruchamianie badblocksna dysku wydaje się strasznie mylić dysk. Oto raport SMART:

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ sudo smartctl /dev/sdm -a
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-79-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     KingDian S200 60GB
Serial Number:    2016022700031
LU WWN Device Id: 0 000000 000000000
Firmware Version: 20150818
User Capacity:    60,022,480,896 bytes [60.0 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   ACS-2 (minor revision not indicated)
SATA Version is:  SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 1.5 Gb/s)
Local Time is:    Sun Mar 20 19:15:31 2016 PDT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x02) Offline data collection activity
                                        was completed without error.
                                        Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (    0) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x11) SMART execute Offline immediate.
                                        No Auto Offline data collection support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        No Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0002) Does not save SMART data before
                                        entering power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  10) minutes.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0002   100   100   050    Old_age   Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2
 12 Power_Cycle_Count       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
160 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
161 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       125
162 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
163 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       20
164 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4943
165 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       12
166 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
167 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4
192 Power-Off_Retract_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
194 Temperature_Celsius     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       40
195 Hardware_ECC_Recovered  0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
241 Total_LBAs_Written      0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2857
242 Total_LBAs_Read         0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       72
245 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       9517

Warning! SMART ATA Error Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 1

ATA Error Count: 0
        CR = Command Register [HEX]
        FR = Features Register [HEX]
        SC = Sector Count Register [HEX]
        SN = Sector Number Register [HEX]
        CL = Cylinder Low Register [HEX]
        CH = Cylinder High Register [HEX]
        DH = Device/Head Register [HEX]
        DC = Device Command Register [HEX]
        ER = Error register [HEX]
        ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 21930 hours (913 days + 18 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 03 ff 93 01 00 ce

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  03 00 00 00 00 00 b9 00      00:00:00.288  CFA REQUEST EXTENDED ERROR
  00 00 00 00 00 00 01 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 00 b3 01 18 00 08 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 02 01 00 00 00 00 4c      16:05:33.861  NOP [Reserved subcommand] [OBS-ACS-2]
  03 00 07 00 00 00 ce 00      00:18:34.183  CFA REQUEST EXTENDED ERROR

Error -4 occurred at disk power-on lifetime: 0 hours (0 days + 0 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  04 51 f0 d0 3e 44 a0  Error: ABRT

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  b0 d0 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ DATA
  b0 d5 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 d5 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 da 00 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART RETURN STATUS
  b0 d1 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ ATTRIBUTE THRESHOLDS [OBS-4]

Warning! SMART Self-Test Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Extended offline    Completed without error       00%         0         -

Selective Self-tests/Logging not supported

W tym momencie miałem dysk około tygodnia. Nie mam pojęcia, jak to miało błędy 918 dni temu.

Dodatkowo: Error -4. Tak, nie sądzę, aby dzienniki SMART miały liczby ujemne. Ups

W tym momencie, jeśli ponownie przetestuję dysk z wadliwymi blokami, urządzenie faktycznie wypadnie, a następnie ponownie się połączy.

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ dmesg | tail -n 50
[2048975.197941] sd 12:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2048975.198218] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.198728] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.200188] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.200633] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.214949]  sdm: unknown partition table
[2048975.215831] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.216456] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.216915] sd 12:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk
[2049068.016741] usb 3-5: reset high-speed USB device number 16 using xhci_hcd
[2049068.036966] usb 3-5: device firmware changed
[2049068.037001] usb 3-5: USB disconnect, device number 16
[2049068.040592] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041057] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.041063] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.041064] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.041065] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.041066] Read(10): 28 00 00 44 3e d0 00 00 f0 00
[2049068.041070] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472528
[2049068.041520] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041974] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.042017] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.042018] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.042018] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.042019] Read(10): 28 00 00 44 3f c0 00 00 f0 00
[2049068.042022] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472768
[2049068.056652] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3c80
[2049068.056654] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3cc0
[2049068.168511] usb 3-5: new high-speed USB device number 17 using xhci_hcd
[2049068.259417] usb 3-5: New USB device found, idVendor=152d, idProduct=2329
[2049068.259420] usb 3-5: New USB device strings: Mfr=1, Product=2, SerialNumber=5
[2049068.259421] usb 3-5: Product: USB to ATA/ATAPI bridge
[2049068.259422] usb 3-5: Manufacturer: JMicron
[2049068.259423] usb 3-5: SerialNumber: 201602270003
[2049068.291104] usb-storage 3-5:1.0: USB Mass Storage device detected
[2049068.291152] usb-storage 3-5:1.0: Quirks match for vid 152d pid 2329: 8020
[2049068.291179] scsi13 : usb-storage 3-5:1.0
[2049069.322875] scsi 13:0:0:0: Direct-Access     KingDian  S200 60GB       2015 PQ: 0 ANSI: 2 CCS
[2049069.323058] sd 13:0:0:0: Attached scsi generic sg12 type 0
[2049069.384321] sd 13:0:0:0: [sdm] 117231408 512-byte logical blocks: (60.0 GB/55.8 GiB)
[2049069.384601] sd 13:0:0:0: [sdm] Write Protect is off
[2049069.384603] sd 13:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2049069.384868] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.385353] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.386764] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.387311] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.396568]  sdm: unknown partition table
[2049069.397466] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.398067] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.398513] sd 13:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk

Sądzę, że wracają do Amazon. Myślę, że zanim zwrócę, przekonam się, czy uda mi się również przekonać innych do porażki.

Edytuj edytuj edytuj edytuj:

Tak, drugi dysk po prostu się zepsuł, gdy przetestowano go dokładnie w ten sam sposób. Ups

integrated-circuit Connor Wolf
źródło
3
To naprawdę interesujące - czy nie byliby w stanie przetestować paczkowania matryc, aby nie marnować pieniędzy na pakowanie kostki, która jest zepsuta? Myślę, że jeśli nie mają takiej konfiguracji, być może jest oznaczona po zapakowaniu + test, aby zaznaczyć niezgodność, a następnie ucieka na „szary” rynek - ciekawy, jaka jest odpowiedź.
Krunal Desai,
Możliwe, że wystąpił problem podczas procesu przesiewania jedwabiu - w takim przypadku prawdopodobnie zostałyby odrzucone, nawet jeśli matryca byłaby całkowicie w porządku. Z ciekawości przetestowałeś dysk SSD, jakieś złe sektory?
Tom Carpenter,
1
@TomCarpenter Wygląda bardziej jak oznaczenia laserowe niż oznaczenia z sitodrukiem. Przypomina mi fałszywe chińskie dyski USB, które zgłaszają dużą dostępną pojemność, dopóki nie spróbujesz zapisać i przywołać więcej niż 2G lub cokolwiek innego - układ kontrolera został skrzywdzony.
Spehro Pefhany
4
Może robią to, aby zniechęcić do zbierania żetonów do samodzielnej sprzedaży.
tokamak
1
Biorąc pod uwagę, że oba typy flashów są tego samego producenta (lub jego filią), prawdopodobnie zostały wyprodukowane w tej samej fabryce (i zapakowane w tym samym miejscu). Jest więc całkiem możliwe, że nadal mogą być odrzucone z takimi samymi oznaczeniami, nawet jeśli są różnymi układami scalonymi. W rzeczywistości obecność dwóch całkowicie różnych układów flash w tym samym produkcie wydaje się sugerować postawę „wykorzystamy wszystko, co możemy dostać w swoje ręce”, co z pewnością nie wyklucza użycia odrzuceń.
Tom Carpenter,

Odpowiedzi:

19

Wysłałem e-mail do Teda Netza, menedżera produktu flash NAND w SpecTek. Oto, co miał do powiedzenia (z kilkoma drobnymi poprawkami gramatycznymi i formatującymi):

Cześć Adam,

W ten sposób znakujemy produkty. Jest to rodzaj sprzedawanej przez nas części, która może mieć wadę mechaniczną, ale często testowana pod względem elektrycznym. Sprzedajemy go jako produkt ryzyka, tak jak jest, ze zniżką i dokonujemy na nim defekacji o 3 bary, aby nie można go było zwrócić jako dobrego urządzenia dla RMA. Wada mechaniczna zazwyczaj nie pozwala jej przejść przez nasze etapy automatycznego skanowania. Zazwyczaj nie udaje się to z powodu współpłaszczyznowości lub może mieć brakującą lub rozbitą piłkę. Ludzie są gotowi przerobić tę część i powinni ją przetestować ponownie. Jednak zwykle zalecamy klientom ograniczenie tych urządzeń do aplikacji USB lub aplikacji niższego poziomu, ponieważ mogą one nie spełniać wszystkich standardów wydajności. Ponadto nie możemy kontrolować procesu przeróbki klienta, więc ponownie nie będziemy gwarantować takiego urządzenia.

Jest jednak jeszcze jedna dziwna rzecz. Dodatkowe znaki H16 62 nie są częścią naszego schematu znakowania. W ten sposób ludzie podrabiali zarówno znak Micron, jak i znak SpecTek, aby przekazać części jako oryginalne SpecTek. Dziwne dla mnie jest także to, że skryba sąsiaduje ze znaczkiem numer jeden. Na dysku oznaczonym SpecTek czcionka różni się w 3 znakach, które nie wyglądają jak typowe czcionki Micron. W każdym razie mam nadzieję, że to pomoże.

Thx - Ted

Tak więc trzy słupki stanowią uzasadnione oznakowanie dyskontowej lampy błyskowej wysokiego ryzyka bez gwarancji z wadami mechanicznymi. Klienci powinni sami przerabiać i testować układy scalone. Jednak na podstawie dodatkowych oznaczeń wydaje się, że układy na dysku mogą być podrobione. Może łatwiej jest uniknąć fałszowania produktu o niższej jakości.

Adam Haun
źródło
3
To fascynujące. Dziękuję bardzo za skontaktowanie się w tej sprawie!
Connor Wolf,
1
Dodatkowe znaki mogły zostać dodane przez firmę zewnętrzną, która przerobiła i przetestowała części. Jak w, są to ich kody QA. Wyglądają, jakby zostały zastosowane za pomocą innego mechanizmu.
John Meacham
@JohnMeacham W związku z awarią obu dysków jestem sceptycznie nastawiony do przeprowadzenia jakichkolwiek testów. Ale zgadzam się, że strona trzecia prawdopodobnie dodała dodatkowe postacie.
Adam Haun
@AdamHaun - Biorąc pod uwagę, że wydaje się, że zawiodły w ten sam sposób, myślę, że wadliwe oprogramowanie jest bardziej prawdopodobne niż zły flash, ale to tylko przypuszczenie.
Connor Wolf
@ConnorWolf Może. Ale oprogramowanie wewnętrzne jest łatwe do skopiowania, a kontroler ma numer części Silicon Motion. Wydają się być legalną firmą. Byłbym zaskoczony, gdyby ich oprogramowanie układowe było tak błędne. Z drugiej strony fałszywe oprogramowanie firm trzecich ...
Adam Haun
-1

Być może układy scalone są dobre, ale w maszynie wystąpiła usterka, która wydrukowała oznaczenia na układach scalonych. Ale nadal były sprzedawane i używane.

Widziałem układy scalone w niektórych urządzeniach, które w jakiś sposób usunęły oznaczenia, aby uniemożliwić identyfikację układu scalonego, co, jak podejrzewam, może być próbą uniemożliwienia kopiowania obwodu przez tanich producentów. (I hobbystów DIY jak ja.)

Frank B.
źródło
2
Omówiliśmy pierwszy punkt w komentarzach, jednak wydaje się to mało prawdopodobne. Po pierwsze są to oznaczenia laserowe, jak wskazał OP i inni, a po drugie linie nie są wyrównane z oryginalnymi oznaczeniami, co sugeruje, że jest to zrobione po wytworzeniu. Drugi punkt został również wspomniany w komentarzach, ale jeśli tak jest, to ktokolwiek to zrobił, zrobił bardzo złą robotę.
Tom Carpenter