Często znajduję thru cal na RF PCB jak na zdjęciu poniżej. Jaki jest cel posiadania tej przelotnej rzeczy na tablicy? Jednym z celów, jaki mogę wymyślić, jest sprawdzenie, czy zaprojektowana linia transmisyjna ma rzeczywiście 50 omów powyżej częstotliwości, o którą chodzi. Zrobiłem trochę badań online i są ludzie, którzy twierdzą, że celem tego testu jest testowanie „przez linię odbicia” (TRL). Nie przekonałem się jednak do tego argumentu, ponieważ TRL technicznie potrzebuje innych dwóch linii (refleksji i linii). Czy ktoś może mi to wyjaśnić na podstawie swoich doświadczeń?
9
Dodano .. Ponieważ istnieje pewne zamieszanie w celu tej ścieżki THRU CAL, z moim wyjaśnieniem, w jaki sposób ...
Testy obejmują otwarty, krótki i zakończony 50 omów dla wszystkich parametrów s.
symulacja tego obwodu - Schemat utworzony przy użyciu CircuitLab
Jest to identyczne z torem z kuponem testowym poza twoim projektem RF. Kiedy określisz impedancję na projekcie płytki drukowanej i spróbujesz wybrać ją poprawnie i potrzebujesz 5% lub 10%, musisz za to dodatkowo zapłacić? 150 $?
Sklep z tablicami dodaje następnie te tory poza obrys, aby skalibrować ich dielektryk za pomocą reflektometru w dziedzinie czasu, który daje równoważne wyniki dla zwrotu strat, jeśli proces, materiał i projekty są prawidłowe. W ten sposób mogą dokonać korekty rozmiarów kodu D, aby zagwarantować specyfikację. Najpierw z próbką, a następnie masowo. wynika to z tolerancji dielektrycznych> 10% i tolerancji cienkiego toru.
Tak więc ten utwór został dodany, aby można było dodawać te same lub podobne części SMA za pomocą testów Open short i thru, aby „odblokować” błędy płyty i osiągnąć oczekiwaną wydajność układu scalonego. Następnie możesz porównać później w swoim ostatecznym projekcie lub w produkcji z tym, jak test TDR dla kontroli procesu płyty na ścieżkach impedancyjnych.
=====================
Kalibracja TRL oznacza 3 testy; Przez, otwarte, krótkie, aby znormalizować konfigurację parametrów rozpraszania.
Jeśli przyrząd testowy może symulować wpływ na sterowanie Vgs płytki drukowanej i inny poziom logiczny, wówczas przełączniki dwukierunkowe mogą być kontrolowane do każdego z tych 3 stanów.
Z tymi wynikami ta lub duplikat płytki bez tego układu scalonego może zostać użyty do przetestowania testowanego urządzenia (DUT) w tym samym obszarze konfiguracji użytkownika, aby wykonać porównania AB bez nieznanych błędów związanych z nieznanym przyrządem testowym.
Return Loss to krytyczna funkcja dopasowanych impedancji, ale także wpływ na zysk lub stratę w kanale.
Tutaj układ zaprojektowany przez Hittite (obecnie Analog Devices) znajduje się na płycie ewaluacyjnej lub przyrządzie testowym. Jest to przełącznik SPDT o doskonałych właściwościach w zakresie utraty THRU i ISOLATION z portu na port. W celu oceny układu na projekcie płytki drukowanej zduplikowano konstrukcję padów do złączy TO BE w celu porównania izolacji przełącznika. Nawet jeśli konstrukcja płytki drukowanej nie jest idealna, przez kalibrację portu THRU z idealnym źródłem 50 Ohm i obciążeniami można również odłączyć wyjście i użyć „standardowej” wtyczki zwarciowej i otwartej wtyczki do wykonania wszystkich parametrów rozpraszania „kuponu testowego” ”lub„ THRU CAL ”, a następnie znormalizuj lub anuluj niewielkie błędy w układzie, aby po prostu zmierzyć wydajność układu.
Stosując te metody, można oczekiwać 50 dB izolacji i 25 dB straty powrotnej w IC przy 0,5 dB straty stratnej. W przeciwnym razie, jeśli to THRU CAL lub kupon testowy. Daje to wygodne porównanie AB ORAZ pozwala ekspertowi niwelować efekty tablicy.
Są to algorytmy „de-osadzania” figury testowej lub unieważniania jej wkładu w ocenę mikroukładu.
TRYB ODBLASKOWY równość TRYB
THRU równość
SciLab (oprogramowanie)
Aby zobaczyć więcej przykładów, w jaki sposób działa to NULL, efekty projektu PCB do oceny możliwości RF IC bez drobnych niedoskonałości projektu PCB, patrz tutaj
Nowoczesne VNA mają pamięć odpowiedzi i procedurę pozwalającą na wykonanie tego półautomatycznie.
źródło